絕緣材料介電常數(shù)與交流損耗的測試意義解析

絕緣材料在電學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，主要分為兩種情況。其一，用于固定電學(xué)網(wǎng)絡(luò)部件并實現(xiàn)絕緣，此時要求材料電容率低，以確保電容小且具備良好的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。其二，作為電容器電介質(zhì)，需要高電容率，以便電容器體積小型化。同時，交流損耗在兩種應(yīng)用中都要求較小，以減少材料發(fā)熱及對網(wǎng)絡(luò)的影響，尤其在高頻場合，損耗指數(shù)低至關(guān)重要。此外，耗散因子等指標(biāo)可反映材料電介質(zhì)擊穿、濕分含量、固化程度等特性，但熱老化導(dǎo)致的破壞通常不會影響耗散因子，除非材料后續(xù)暴露在濕分中，且當(dāng)初始耗散因子值重要時，其隨老化變化顯著。這些測試指標(biāo)對于絕緣材料的性能評估和實際應(yīng)用選擇具有關(guān)鍵意義。